Заседание Совета Ассоциации по методам измерений и разработке контрольно-измерительного оборудования тестирования ЭКБ
Заседание Совета Ассоциации по методам измерений и разработке контрольно-измерительного оборудования тестирования ЭКБ
22 марта в зале Ученого Совета МИЭТ состоялось очередное заседание Совета Ассоциации вузов ЭКБ, посвященное вопросам подготовки кадров в области создания методик измерений, а также разработки и производства контрольно-измерительного оборудования, предназначенного для измерения параметров и тестирования изделий ЭКБ. Заседание традиционно вел председатель Совета Ассоциации, президент МИЭТ, академик РАН Чаплыгин Ю.А.
В заседании приняли участие члены Ассоциации, представители иностранных и отечественных компаний-разработчиков контрольно-измерительного оборудования и компаний, осуществляющих спектр услуг по тестированию и воздействию внешних факторов на ЭКБ - National Instruments, Keysight Technologies, ООО «Форм», ООО «Сотем», ООО «Совтест АТЕ», Группа Компаний «АЛРОСТ», АО «ПКК Миландр», инженерного центра АСК, а также Ассоциация разработчиков и производителей электроники, ФГУП ВНИИФТРИ, АО «НПП «Исток им.Шокина», Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова ВШЭ, Владимирский государственный университет, АО «Росэлектроника» и другие – всего свыше 40 человек.
Повестка заседания началась докладом генерального директора National Instruments Сепояна Погоса Рубеновича. Компания National Instruments (NI) активно сотрудничает с вузами в области создания учебных центров измерений. Сепоян П.Р. указал направления работы компании, упомянул разработанные современные платформы NI, отметил опыт совместной работы NI с университетами (в том числе, входящими в Ассоциацию). Отдельно Сепоян П.Р. акцентировал внимание на участие NI с 2015 года в листе российских соревнований WorldSkills и формированию компетенции WorldSkills «Электроника». По окончанию доклада он пригласил присутствующих принять участие в ближайших мероприятиях NI. Его доклад вызвал интерес, гости задавали много вопросов в области инвестирования проектов компанией, форм-факторов разрабатываемой аппаратуры, мероприятий NI, доли аппаратуры NI на рынке контрольно-измерительного оборудования и т.п.
Со стороны ТУСУР с докладом «Опыт ТУСУРа в разработке методик измерений и применения контрольно-измерительного оборудования при исследовании характеристик ЭКБ и подготовке кадров» выступил начальник научного управления, к.т.н. Агеев Е.Ю. В докладе Евгений Юрьевич отметил создание в вузе Центра компетенций ТУСУР «СВЧ электроника», который включает НОЦ «Нанотехнологии» ТУСУР, НОЦ «ТУСУР-Кейсайт» и Комплекс научно- и учебно-исследовательских лабораторий, общей площадью более 600 кв.м. Центр ориентирован на исследования в области твердотельной СВЧ микро- и наноэлектроники. В комплекс лабораторий входит дизайн-центр по проектированию СВЧ МИС, лаборатория сборки СВЧ модулей, лаборатория разработки программного обеспечения, учебно-исследовательская лаборатория испытаний СВЧ-модулей и устройств, учебно-исследовательская лаборатория САПР СВЧ устройств и др. Агеев Е.Ю. отметил, что в вузе подготовка кадров в области измерений параметров ЭКБ ведется в рамках магистерской программы «Автоматизация проектирования микро- и наноэлектронных устройств для радиотехнических систем» 2014 года. Указанная программа открыта по тематике разработки аналоговых СВЧ МИС, систем на кристалле и модулей на их основе. Также на основе разработанных учебных материалов с 2010 года проводятся краткосрочные курсы профессиональной подготовки специалистов в области проектирования и производства СВЧ полупроводниковых устройств и МИС, применения СВЧ МИС, ориентированные на потребности предприятий (образовательная программа ГК «Роснано»).
От имени компании Keysight Technologies (KT) с докладом выступил менеджер по развитию бизнеса САПР EEsof Юрченко Н.Н. Он указал на широкий спектр программного обеспечения в части измерений, разрабатываемый компанией Keysight, отметил, что доля САПР KT в области ВЧ и СВЧ устройств на сегодняшний день достигает 70%. Компания готова предложить полную «линейку» программного обеспечения: от создания концепции системы до разработки конечного продукта. Ключевыми областями компетенций KT являются: системы связи и радиолокации, полупроводниковое производство, СВЧ устройства, высокоскоростные цифровые устройства. KT создал и успешно реализует университетскую программу, в рамках которой поддерживает 52 плавающие лицензии, сопровождает полный пакет ПО Keysight EEsof, создает учебники на русском языке и руководства по применению и т.д. Также Юрченко Н.Н. и директор Института микроприборов и систем управления Переверзев Алексей Леонидович торжественно подписали двухсторонний договор между Keysight и МИЭТ.
Заведующий лабораторией дизайна и СВЧ измерений Рыжук Р.В. представил НИЯУ МИФИ с докладом «Техническое оснащение НИЯУ МИФИ для подготовки кадров в области СВЧ электроники». НИЯУ МИФИ объединяет 10 ВУЗов и 15 колледжей: около 34 тыс. учащихся, более 2000 человек – штат ППС, более 500 тыс.кв.м. учебных площадей, реализует 60 специальностей ВПО и 45 специальностей СПО. Роман Валерьевич рассказал об оснащении и деятельности научно-образовательного центра «Нанотехологии», а также о спектре направлений подготовки в области электроники. В частности, основными проектами НОЦ «Нанотехнологии» являются:
- разработка технологий и компонентов интегральной сверхвысокочастотной радиофотоники;
- разработка СВЧ гетероструктурного сверхмалошумящего транзистора диапазона 0,5 - 18 ГГц;
- создание научных основ и разработка метода планаризации сверхтвердых поверхностей и измерения микротвердости материалов путем бомбардировки кластерными ионами;
- повышение квалификации сотрудников ОАО «ОКБ-Планета» в области разработки и производства силовых твердотельных приборов на основе нитрид-галлиевой технологии;
- разработка перспективных СВЧ компонентов для высокоплотных радиоэлектронных модулей нового поколения;
- разработка технологии создания радиационно-стойких транзисторов мм-диапазона частот на основе наногетероструктур InAlAs/InGaAs;
- разработка технологии производства гетероэпитаксиальных структур на основе карбида кремния и родственных широкозонных полупроводниковых материалов на нанопористых подложках кремния для приборов электроники, микро- и наносистемной техники.
Рыжук Р.В. отметил, что НИЯУ МИФИ готов к сотрудничеству.
После перерыва с докладом выступила выпускница МИЭТ Елисеева Н.П., директор ООО «Форм», деятельность которого направлена на проектирование и создание линейки контрольно-измерительного оборудования FORMULA. Потребителями продукции является 94 предприятия ОПК, в эксплуатации сейчас находится более 500 тестеров FURMULA, а 9 типов тестеров внесены в ГосРеестр СИ. Заказчиками тестеров FORMULA являются дизайн-центры ЭКБ, производители ЭКБ, производители конечных изделий и испытательные центры. Отметив преимущества тестеров компании, она подробно остановилась на четырёх видах тестеров, выпускаемых ими: тестеров микросхем, тестеров полупроводников, тестеров реле и тестеров электронных узлов. Елисеева Н.П. перечислила направления сотрудничества ООО «Форм» с ВУЗами, среди которых: подготовка инженеров-разработчиков со специализацией «Измерения, испытания и исследования ЭКБ», «Научная работа по созданию методик измерений современной ЭКБ», «Разработка и применение российского контрольно-измерительного оборудования для верификации, измерений, исследований и испытаний ЭКБ». Для обеспечения учебного процесса ООО «Форм» предлагает стажировки студентов в испытательной лаборатории в Сколково и Департаментах НИОКР, курсовое и дипломное проектирование по созданию тестовых решений для тестеров FORMULA, а также трудоустройство выпускников в ООО «Форм» и на предприятиях ОПК – партнеров. Наталья Павловна пригласила присутствующих на ближайший семинар в Сколково «Современные инструменты контроля и исследований высокочастотных СБИС». Также она указала на проблему интеграции отечественных метрологических стандартов в единую европейскую систему измерений, которая значительно затрудняет процесс разработки отечественного контрольно-измерительного оборудования и его применение заказчиками за рубежом, а также на трудности с поиском специалистов-разработчиков на вакансии компании.
Генеральный директор ООО «Сотем» Субботина Н.В. в докладе «Представление некоторых технических решений по оснащению учебно-научных лабораторий ВУЗов и предприятий промышленности» вкратце рассказала о деятельности компании, её истории, рынке услуг и заказчиках, отметив, что «Сотем» работает с такими образовательными учреждениями, как МИЭТ, МФТИ, ИжГТУ, Сормовский механический техникум, Арзамасский приборостроительный колледж им. П.И. Пландина и др. ООО «Сотем» осуществляет:
- разработку и внедрение автоматизированных аппаратно-программных комплексов (АПК) проектирования, моделирования и испытания радиоэлектронных систем для различных предприятий промышленности, включая ВПК;
- разработку и создание многофункциональных систем мониторинга и имитации РЭО, имитаторов навигационных, радиолокационных и связных сигналов отечественных и зарубежных систем;
- разработку и поставку систем тестирования и диагностики сложных радиотехнических систем, узлов, блоков и элементов ЭКБ;
- участие в создании испытательных стендов (в том числе комплексных) в части систем управления, регистрации, сбора и обработки информации;
- участие в выполнении НИР и ОКР;
- участие в конкурсах ВУЗ-предприятие как в качестве индустриального партнера, так и в качестве соисполнителя;
- оснащение учебных и научных лабораторий, ВУЗов и предприятий современными аппаратно-программными комплексами.
Дополнил выступление Субботиной Н.В. руководитель инженерного центра «АСК» Колочков С.В. Задачей ИЦ АСК является контроль качества ЭКБ, измерение электрических параметров, функциональный контроль, испытание ЭКБ и РЭА на стойкость к механическим, климатическим и другим воздействиям. Разработками ИЦ АСК явились сборки, макеты, комплексы на основе оснасток для тестирования ЭКБ и РЭА. Разработан учебный курс, направленный на получение практических навыков и теоретических знаний в области измерений/испытаний ЭКБ, который даёт понимание задач, принципов организации измерений/исследований/ испытаний при разработке и производстве ЭКБ. Курс научит видеть задачу в целом и составные её части, научит пользоваться нормативно-правовой базой, а также подбирать и применять средства измерений/испытаний. Сергей Викторович также отметил нехватку кадров в инженерном центре и высказал предложение разработки и эффективного внедрения ВУЗами ряда магистерских программ и дополнительных образовательных программ в области разработки методик и проведения измерений параметров ЭКБ.
Курочкин Д.А., руководитель испытательной лаборатории группы компаний «АЛРОСТ», выступил с докладом «Возможные направления сотрудничества между участниками Ассоциации и ГК «АЛРОСТ» и предложил следующие направления сотрудничества с Ассоциацией вузов ЭКБ: поставки ЭКБ, испытания ЭКБ, испытания РЭА, совместные научные разработки и совместную подготовку квалифицированных кадров (включая теоретическую и практическую подготовку). Он также отметил дефицит специалистов в ГК «АЛРОСТ» и предложил скооперироваться бизнесу, обеспечивая совместное финансирования разработки и реализации образовательных программ магистратуры в области измерений и тестирования изделий ЭКБ вузами Ассоциации.
С заключительным докладом «Эффективное воздействие Крупных Интегрированных структур с ВУЗами на примере АО «Росэлектроника» выступил представитель АО «Росэлектроника» Воронцов Н.С., рассказав участникам заседания о крупных мероприятиях АО «Росэлектроника» - IT прорыв, конкурсе «Радиоэлектроника будущего», ежегодном форуме «Инженеры будущего», а также о привлечении вузов к экспертизе проектов молодых ученых.
В процессе обсуждения заслушанных докладов выступили председательствующий Чаплыгин Ю.А., ректор ТУСУР, проф. Шелупанов А.А., профессор ИЭМС МИЭТ Путря М.Г., руководитель отдела образовательных программ Keysight Technologies Ревякина И.А., профессор ВлГУ Крылов В.П., координатор кадрового комитета АРПЭ Степанова Т.В.
В рамках заседания председатель Совета Ассоциации Чаплыгин Ю.А. обратился к присутствующим с предложением принять участие 17 апреля 2018г. в МИЭТ лично или через представителей в очередном научно-техническом семинаре компании Cadence Design Systems – одного из ведущих разработчиков программного обеспечения в области проектирования интегральных микросхем.
На основании заявления исполняющего обязанности ректора ВлГУ Саралидзе А.М. решением Общего собрания Ассоциации Владимирский государственный университет имени Александра Григорьевича и Николая Григорьевича Столетовых (ВлГУ) был принят в состав Ассоциации вузов ЭКБ. Чаплыгин Ю.А. вручил сертификаты членства в Ассоциации проф. ВлГУ Крылову В.П. и заместителю генерального директора по информационным технологиям ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор» Гутнеру И.Е. (членство с 2017г.)
На заседание Совета Ассоциации участники привезли с собой не менее полутора десятка единиц демонстрационного контрольно-измерительного оборудования по измерению параметров ЭКБ, рекламные роллы, раздаточные буклеты с фотографиями и техническими характеристиками изделий, информационные листы, анкеты, приглашения к сотрудничеству через конференции и научно-технические семинары, компакт-диски с программным обеспечением и др. В зале царила атмосфера конструктивного диалога и будущего сотрудничества. Участники обменялись контактами и выступили с инициативой дать предложения в проект решения Ассоциации для продолжения обсуждения и решения озвученных проблем.
С презентациями докладчиков Вы можете познакомиться тут:
1) Презентация компании National Instruments (докл. Погос Сепоян);
2) Презентация ТУСУР (докл. Агеев Е.Ю.);
3) Презентация компании Keysight Technologies (докл. Юрченко Н.Н.);
4) Презентация МИФИ (докл. Рыжук Р.В.);
5) Презентация компании ООО "Форм" (докл. Елисеева Н.П.);
6.1) Презентация компании ООО "Сотем" (докл. Субботина Н.В.);
6.2) Презентация ИЦ АСК (докл. Колочков С.В.);
7) Презентация ГК АЛРОСТ (докл. Курочкин Д.А.);
8) Презентация АО "Росэлектроника" (докл. Воронцов Н.С.).
С фотоматериалами можно познакомиться тут:
Фотоархив