Основы исследований наноразмерных элементов ИС методами сканирующей зондовой микроскопии
О программе
Программа посвящена изучению основ работы сканирующего зондового микроскопа, особенностей исследования поверхности образцов в различных режимах СЗМ, точного определения параметров исследуемых объектов
Содержание курса
Программа позволяет получить основы и перспективы применения зондовых нанотехнологий при исследовании структур элементов наноэлектроники.
Другие программы
Малосигнальное моделирование устройств силовой электроники
Программа направлена на освоение новых или совершенствование имеющихся профессиональных компетенций, необходимых для профессиональной деятельности в …
Основы производства радиоэлектронных средств
обучающимися профессиональной квалификации «Инженер-технолог по производству радиоэлектронных средств» нового вида профессиональной деятельности «Технологическая подготовка производства …
Современные методы прикладных информационных технологий
ЦЕЛЬ ОБУЧЕНИЯ :Получение представления о современных методах и средствах проектирования информационных систем; стандартах, действующих в …